泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic S100|泰勒的詳細資料：

泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic S100|泰勒

SURTRONIC  S116 粗糙度儀能夠為您的粗糙度測量需求提供多種解決方案， 包括多樣化的系統和應用相關的配件，  并且能夠為您的特殊需求定制工裝。耐沖擊性橡膠化塑性整個機身， 聚脂薄膜保證了觸摸屏的持久耐用性，抗磨損的齒輪和軸承堅固的不銹鋼驅動機構。  大容量鋰聚合物電池， 一次充電后可進行至少2000次測量。即開即用能夠讓儀器在待機狀態下1秒即可啟用測量， 充滿電后待機能力長達5000個小時。
任何表面， 任何高度。 包括一個50mm長的測針升降裝置和直角附件，以及深達70mm的測量能力， 在不需要昂貴的墊塊、支架或工裝的情況下， 對具挑戰性的測量位置進行檢測。 防滑的V型腳架設計使系統能夠用在平滑或彎曲的平面上。 測針還能夠反方向底部測量。
像其它導航或智能手機一樣， 擁有4.3寸大尺寸觸屏， 易讀性強。 一頁上可顯示多至7個參數?？蓪⑵聊恍D四個方向。 輕觸快捷鍵即可進行所有關鍵設置。A類型USB 2.0可連接便攜式打印機或USB存儲設備。 迷你USB 2.0用于充電或連接電腦傳輸數據。
泰勒•霍普森有限公司專業從事超高精度表面及其輪廓形狀測量，是全球*的圓度/圓柱度儀、表面粗糙度輪廓儀、白光干涉表面輪廓儀及超精單點金剛石車床等設備的供應商，總部位于英國萊斯特市，我們提供接觸與非接觸測量方法以滿足多種應用需求，公司產品廣泛應用于現代制造業及新興產業，如半導體、硬盤、精密光學、微納米學等。
SURTRONIC S116 粗糙度儀

一、S116標準配置:
顯示單元;112-1502標準測針;測針連接線;多刻線樣板;測針提升機構;USB接口充電器;使用手冊;USB通訊電纜;儀器箱

二、技術參數

數據顯示 ：

顯示屏每頁顯示7個測試結果，屏幕上可顯示輪廓圖（剖面圖）

可以打印測試結果和圖形

使用Talyprofile軟件可以連接電腦，分析測試結果

數據存儲：

儀器可以存儲100個測試數據和一個圖形

儀器支持U盤大4G，多可存儲39,000個圖形，每批可存儲10萬個測試結果，共70批數據。

使用Talyprofile軟件與電腦連接可以存儲無限數據。

電源：

充電器 ：USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz

充電時間：4小時

電池壽命：充電一次可以做2000次測試

待機時間：5000小時

由待機狀態到開機測試狀態，長時間不超過1秒I

自動關機：30秒– 6小時可以自行設置

三、技術指標：

測量范圍：200 um 100 um 10 um

分辨率：  100 nm 20 nm 10 nm

底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm

重復精度 (Ra) ：1%測試值+底噪

傳感器原：電感

測量力：150-300mg

測針針尖半徑：標配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)

測試方式：滑動掃描

校準：

自動軟件校準    標準：ISO4287

四、測試參數：

三個取樣長度：0.25mm、0.8mm、2.5mm

二個濾波器：2CR、Gaussian

評定長度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選

大行程：17.5mm

測試速度：

測試速度：1mm/sec(0.04 in/sec)

回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)

測試參數：

執行標準：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO標準可以測量12個參數： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME標準可以測量11個參數：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

JIS標準可以測量14個參數：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

其他 ：R3z (Daimler Benz)

測試單位：um/uin

五、可選附件

測試平臺：

00級大理石平板：400X250X70mm

有效高度：280mm。

可調Y軸V型鐵

可調范圍：±5mm

V型鐵長度100mm