返回首頁
在線訂單
聯(lián)系我們
1. 產(chǎn)品概述
XUL220 是一款緊湊型、高精度的X射線熒光測量儀器，主要用于鍍層厚度測量和材料分析。它適用于實驗室和生產(chǎn)質(zhì)量控制，能夠快速、無損地檢測各種金屬鍍層和薄涂層的厚度及成分。
2. 主要功能與應(yīng)用
XUL220 的核心功能是利用X射線熒光原理進行無損檢測，具體應(yīng)用包括：
鍍層厚度測量：可測量單層、雙層乃至多層鍍層的厚度（例如：鋼上的鋅鍍層、銅上的金鍍層、鎳/鉻多層鍍層等）。
材料成分分析：分析固體、液體、粉末的化學(xué)成分（如焊料、貴金屬合金成分）。
微小區(qū)域測量：得益于其精密的光斑聚焦技術(shù)，適合測量電子元器件、連接器、印刷電路板（PCB）上的微小焊盤和鍍層。
3. 核心技術(shù)特點
測量原理：采用能量色散X射線熒光法。當(dāng)X射線照射樣品時，樣品激發(fā)出特征熒光X射線，儀器通過分析這些射線的能量和強度來確定元素種類和鍍層厚度。
高分辨率探測器：通常配備比例計數(shù)管探測器，具備良好的能量分辨率和計數(shù)率，能夠有效分離相鄰元素（如鉻和錳，銅和鋅），保證測量準(zhǔn)確性。
微聚焦X射線管：提供穩(wěn)定的高壓和管流，確保測量光斑尺寸小且穩(wěn)定，適應(yīng)微小樣品的檢測需求。
可編程測量光斑：可根據(jù)樣品大小選擇不同的準(zhǔn)直器（光斑尺寸），靈活應(yīng)對不同規(guī)格的樣品。
WinFTM軟件：搭載菲希爾的WinFTM測量與評估軟件。該軟件功能強大，支持：
無標(biāo)樣測量（基本參數(shù)法 FP）：在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下也能進行近似測量。
經(jīng)驗系數(shù)法：使用標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)，精度高。
自動生成測量報告和統(tǒng)計分析。
4. 典型應(yīng)用領(lǐng)域
電子行業(yè)：PCB板焊盤鍍層（金、鎳、銅）、連接器端子、半導(dǎo)體引腳框架。
五金電鍍：螺絲、螺母等緊固件的鍍鋅、鍍鎘厚度檢測。
汽車行業(yè)：汽車零部件的防腐鍍層及裝飾性鍍層檢測。
珠寶行業(yè)：貴金屬（金、銀、鉑）的純度分析及鍍金層厚度測量。
