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測厚儀（thickness gauge ）是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業生產中常用來連續或抽樣測量產品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。
這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。 用于測定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構件在制造和檢修時必須測量其厚度，以便了解材料的厚薄規格，各點均勻度和材料腐蝕、磨損程度；有時則要測定材料表面的覆蓋層厚度，以保證產品質量和生產安全。根據測定原理的不同，常用測厚儀有超聲、磁性、渦流、同位素等四種。
測厚儀種類：
1、超聲波測厚儀
超聲波在各種介質中的聲速是不同的，但在同一介質中聲速是一常數。超聲波在介質中傳播遇到第二種介質時會被反射，測量超聲波脈沖從發射至接收的間隔時間，即可將這間隔時間換算成厚度。在電力工業中應用廣的就是這類測厚儀。常用于測定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度，也用于校核工件結構尺寸等。這類測厚儀多是攜帶式的，體積與小型半導體收音機相近，厚度值的顯示多是數字式的。對于鋼材，大測定厚度達2000 mm左右，精度在±0.01～±0.1 mm之間。
2、磁性測厚儀
在測定各種導磁材料的磁阻時，測定值會因其表面非導磁覆蓋層厚度的不同而發生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值。常用于測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。
3、渦流測厚儀
當載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時，由于高頻磁場的作用而使金屬體內產生渦流，此渦流產生的磁場又反作用于探頭線圈，使其阻抗發生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關，因而根據探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。
4、同位素測厚儀
利用物質厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理，可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。
5、庫侖電解測厚儀
6、霍爾效應測厚儀
測厚儀應用：
1.激光測厚儀
是利用激光的反射原理，根據光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產品的厚度，是一種非接觸式的動態測量儀器。它可直接輸出數字信號與工業計算機相連接，并迅速處理數據并輸出偏差值到各種工業設備。
2.X射線測厚儀
利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，篤摯儀器從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統，達到要求的軋制厚度。主要應用行業：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業的板帶加工。
3.紙張測厚儀
適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。
4.薄膜測厚儀
用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數據輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。
5.涂層測厚儀
用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.
6.超聲波測厚儀
超聲波測厚儀是根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，篤摯儀器，通過測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播的各種材料均可采用此原理測量。
篤摯儀器銷售的測厚儀種類：
1. 德國Fischer測厚儀：涂層測厚儀、超聲波測厚儀、庫侖電解測厚儀等；
2. 德國EPK測厚儀：涂層測厚儀、超聲波測厚儀、庫侖鍍層測厚儀等；
3. 美國GE測厚儀：超聲波測厚儀等；
4. 日本奧林巴斯測厚儀：超聲波測厚儀、霍爾效應壁厚儀等；
5. 德國BYK測厚儀：涂層測厚儀等；
6. 美國狄夫斯高測厚儀：超聲波測厚儀等；
7. 德國尼克斯測厚儀：涂層測厚儀等；
8. 英國牛津測厚儀：涂層測厚儀等；
9. 英國易高測厚儀：涂層測厚儀，超聲波測厚儀等。
